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發(fā)射光譜測量系統(tǒng)

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發(fā)射光譜測量系統(tǒng)不僅可測量光源或其他發(fā)射光譜分布,而且可在此基礎(chǔ)上得到積分輻射通量、光通量、色坐標(biāo)等。

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發(fā)射光譜測量系統(tǒng)

發(fā)光體,如白熾燈、熒光燈、LED等輻射光譜及發(fā)光特性的測試,對研究其特性有很大幫助。系統(tǒng)不僅可測量光源或其他發(fā)射光譜分布,而且可在此基礎(chǔ)上得到積分輻射通量、光通量、色坐標(biāo)等。

針對不同輻射光源的特性,可靈活選擇測試系統(tǒng),如:寬帶光源和LED通常分辨率要求不高,建議使用SGM100或短焦距“譜王”、“影像譜王”系列光譜儀/單色儀;激光器、放電燈、等離子體、原子發(fā)射光譜等要求分辨率高,建議使用長焦距“譜王”、“影像譜王”系列光譜儀/單色儀;寬波長范圍(UV~IR),建議采用雙出口單色儀接兩個探測器;測試寬光譜范圍的發(fā)光體,需要采用SD濾光片輪消多級光譜。?

系統(tǒng)組成:分光系統(tǒng)+檢測系統(tǒng)+數(shù)據(jù)采集及處理系統(tǒng)+軟件系統(tǒng)+計算機系統(tǒng)

OmniES-掃描型發(fā)射光譜測量系統(tǒng)

OmniES-攝譜型發(fā)射光譜測量系統(tǒng)

北京卓立漢光儀器有限公司

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