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溫度沖擊試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)的分析

溫度沖擊試驗(yàn)可用于考核產(chǎn)品對(duì)周圍環(huán)境溫度急劇變化的適應(yīng)性，是裝備設(shè)計(jì)定型的鑒定試驗(yàn)和批生產(chǎn)階段的例行試驗(yàn)中*的試驗(yàn)項(xiàng)目，在有些情況下也可以用于環(huán)境應(yīng)力篩選?？梢哉f，其在驗(yàn)證和提高裝備的環(huán)境適應(yīng)性方面應(yīng)用的頻度僅次于振動(dòng)與高低溫試驗(yàn)。該試驗(yàn)項(xiàng)目在我國裝備常用的環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)GJB 150-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》（以下簡稱GJB 150），以及GB 2423《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》（以下簡稱GB 2423）和美軍標(biāo)MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮和實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》（以下簡稱810F）中均是一項(xiàng)獨(dú)立的試驗(yàn)項(xiàng)目。三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)中這一試驗(yàn)項(xiàng)目在某些內(nèi)容甚至在概念上存在較大差異。

本文對(duì)這三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)中的這一試驗(yàn)項(xiàng)目進(jìn)行對(duì)比分析：

1、GJB 150.5（1986） 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)

　　目的：確定軍用設(shè)備對(duì)周圍大氣溫度急劇變化時(shí)的適應(yīng)性

　　應(yīng)用產(chǎn)品層次：設(shè)備

2、MIL-STD-810F 第II部分方法503.4（2001）　環(huán)境工程考慮和實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)　第II部分實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)方法溫度沖擊程序１、恒定極值溫度沖擊　　程序２、基于高溫循環(huán)的沖擊

　　目的：確定裝備能否經(jīng)受其周圍大氣溫度的急劇變化，而不產(chǎn)生物理損壞或性能下降。“急劇變化”定為“大于１０度／分鐘”

　　應(yīng)用產(chǎn)品層次：元部件設(shè)備

３、GB2423.22-87（1987）電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度變化試驗(yàn)方法　　Na　規(guī)定轉(zhuǎn)換時(shí)間的快速溫度變化試驗(yàn)　　Nb 規(guī)定溫度變化速率的溫度變化試驗(yàn)　　Nc兩液槽溫度快速變化試驗(yàn)

　　目的：確定元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度迅速變化的能力

　　應(yīng)用產(chǎn)品層次：元器件、設(shè)備和其他產(chǎn)品

試驗(yàn)?zāi)康模?/p>

　　三個(gè)系列標(biāo)準(zhǔn)中溫度沖擊試驗(yàn)敘述的試驗(yàn)?zāi)康氖腔疽恢碌?，只是表達(dá)方式略有區(qū)別。應(yīng)當(dāng)指出，這種表達(dá)方式略有區(qū)別。應(yīng)當(dāng)指出，這種表達(dá)方式比較含糊和籠統(tǒng)。實(shí)際上溫度沖擊試驗(yàn)作為一種工具，應(yīng)用在產(chǎn)品研制生產(chǎn)的不同的階段時(shí)的目的是不同的。工程研制階段可用于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和工藝缺陷；產(chǎn)品定型或設(shè)計(jì)鑒定和批產(chǎn)階段用于難產(chǎn)品對(duì)溫度沖擊環(huán)境的適應(yīng)性，為設(shè)計(jì)定型和批產(chǎn)驗(yàn)收決策提貨依據(jù)；作為環(huán)境應(yīng)力篩選應(yīng)用時(shí)，目的是剔除產(chǎn)品的早期故障，因此在編寫研制過程不同階段的環(huán)境試驗(yàn)大綱或篩選大綱，試驗(yàn)報(bào)告或篩選報(bào)告時(shí)，應(yīng)將其目的的具體化，不宜象１、２、３中的那樣壓縮地表述。

應(yīng)用對(duì)象

　　三個(gè)系列標(biāo)準(zhǔn)中溫度沖擊試驗(yàn)的應(yīng)用產(chǎn)品層次略有不同。GJB 150規(guī)定只適用于設(shè)備，而810F和GB 2423中規(guī)定可適用于元器件、部件、設(shè)備等各個(gè)組裝等級(jí)。GJB 150是以美軍標(biāo)810C/D兩個(gè)版本為基礎(chǔ)制定的，美軍標(biāo)體系中元器件溫度沖擊試驗(yàn)另有單獨(dú)的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)MIL
-STD-202F《電工電子元器件環(huán)境試驗(yàn)方法》。我國也以202F標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)制定了我國的電工電子元器件的環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)GJB　360《電工電子元器件環(huán)境試驗(yàn)方法》，這兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)中均有溫度沖擊試驗(yàn)分標(biāo)準(zhǔn)。因此，GJB150和810C/D中溫度沖擊試驗(yàn)應(yīng)用產(chǎn)品于設(shè)備。GB 2423系列標(biāo)準(zhǔn)屬于歐洲電工委員會(huì)（IEC）標(biāo)準(zhǔn)的體系，尚未發(fā)現(xiàn)該標(biāo)準(zhǔn)體系中單獨(dú)給出元器件的環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)，所以GB 2423適用于各個(gè)組裝等級(jí)產(chǎn)品的規(guī)定有一定的合理性。然而810F中規(guī)定也適用于元部件規(guī)定，是與202F標(biāo)準(zhǔn)相矛盾的，不夠合理，目前沒有見到如此規(guī)定的說明。

應(yīng)用介質(zhì)

　　GJB 150和810F的溫度沖擊試驗(yàn)中規(guī)定使用的介質(zhì)限于空氣，而GB 2423溫度變化試驗(yàn)中的，Na、Nb使用的介質(zhì)也為空氣。Nc試驗(yàn)使用的介質(zhì)是液體。使用什么樣的介質(zhì)主要取決于產(chǎn)品實(shí)際壽命期內(nèi)遇到的介質(zhì)類型。顯然使用液體作為介質(zhì)進(jìn)行的溫度沖擊試驗(yàn)更為嚴(yán)酷。

對(duì)試驗(yàn)設(shè)備的要求

　　列出了三個(gè)系列標(biāo)準(zhǔn)中溫度沖擊試驗(yàn)對(duì)試驗(yàn)箱的要求，由于都是屬于溫度試驗(yàn)的范疇，因?yàn)槠鋵?duì)溫度沖擊試驗(yàn)箱的要求是與對(duì)溫度試驗(yàn)箱要類似的，其主要區(qū)別是增加了溫度沖擊試驗(yàn)中開箱放入試驗(yàn)樣品后試驗(yàn)箱內(nèi)空氣溫度恢復(fù)到規(guī)定試驗(yàn)溫度的時(shí)間要求。下面對(duì)各種要求作-------說明。