CCD 或CMOS影像感測組件量子效率/光譜響應(yīng)量測。

產(chǎn)品特色

可量測單一像素點的量子效率。
光譜響應(yīng)/量子效率量測儀
可量測全數(shù)組像素量子效率。
可產(chǎn)生各種所需單色光均勻光源，自動化校正各單色光、特定單色光入射光子數(shù)。
可量測CRA特性（選配）
軟件可配合用戶需求修改（選配）。
為全自動化設(shè)計，操作簡易。

光譜響應(yīng)/量子效率量測儀

CCD 或CMOS影像感測組件量子效率/光譜響應(yīng)量測。

產(chǎn)品特色

1. 可量測單一像素點的量子效率。
2. 可量測全數(shù)組像素量子效率。
3. 可產(chǎn)生各種所需單色光均勻光源，自動化校正各單色光、特定單色光入射光子數(shù)。
4. 可量測CRA特性(選配)
5. 軟件可配合用戶需求修改(選配)。
6. 為全自動化設(shè)計，操作簡易。

光譜響應(yīng)/量子效率量測儀系統(tǒng)優(yōu)勢:
*QE-IS系統(tǒng)采用光焱科技研發(fā)多年的單色光均光系統(tǒng)具備下列多項優(yōu)勢:
*高均勻度
*可產(chǎn)生高均勻度的單色光光斑，在10x10mm²面積內(nèi)均勻度可以>99%，在20x20mm²面積內(nèi)仍可維持在>98%。與積分球系統(tǒng)相較，具有更佳的均勻度表現(xiàn)。
*高光強度、高訊噪比
*QE-IS高效率均光系統(tǒng)，以550nm單色光為例，在QE-IS系統(tǒng)光均面的光強度可>5 uW/cm²，相較于積分球系統(tǒng)的單色光強僅1x10^-8 uW/cm²，兩者差距千萬倍，QE-IS系統(tǒng)量測具備的訊噪比，可精確測出感光組件的量子效率等相關(guān)光學(xué)特性。 
*可作單像素QE量測
*因QE-IS單色光強度足夠(5 uW/cm²@550nm)，打在1 um的像素單元，產(chǎn)生的光電流約在20 pA，相較于積分球系統(tǒng)產(chǎn)生的單一像素光電流在sub-fA以下，QE-IS系統(tǒng)可直接用于量測數(shù)組感光組件上，任何單一像素的量子效率。 
*可作全數(shù)組像素QE量測
*除單一像素量測，QE-IS可整合或是被整合于使用者自行開發(fā)的感光組件的數(shù)字電路訊號，以量測全數(shù)組像素QE。 
*可作CRA量測
*QE-IS的均勻單色光發(fā)散角度< 5度，相較積分球的發(fā)散角度 >90度，搭配選配的旋轉(zhuǎn)平臺，即可量測CRA(Chief Ray Angle)特性。無需額外添購系統(tǒng)，方便整體的量測。

QE-IS與傳統(tǒng)積分球系統(tǒng)的特性比較表

 產(chǎn)品規(guī)格

1. 適用影像組件尺寸: 1/4"、1/3"、1/2"、2/3"、1"

2. 單色光光譜范圍: 350~1100 nm (可擴充)
3. 電流分辨率: < 1pA (一般), 電流計小解析能力: 10 fA , 5-1/2 digit resolution
4. 均勻光源規(guī)格: 10 mm x 10 mm 
5. 光均勻度> 99 % 
6. 單色光源角度: < 5° (半角)