賽默飛ELEMENT GD Plus輝光放電質(zhì)譜儀結(jié)合了輝光放電離子源和雙聚焦高分辨率質(zhì)量分析器，可以定性定量分析固體樣品中包括C、N、O在內(nèi)的幾乎所有元素，是直接、快速分析高純樣品雜志含量和鍍層材料元素組成的優(yōu)質(zhì)工具。

賽默飛ELEMENT GD Plus輝光放電質(zhì)譜儀　　

      產(chǎn)品介紹                                                                                                                 
 

　　Thermo Scientific ELEMENT GD結(jié)合了輝光放電離子源和雙聚焦高分辨率質(zhì)量分析器，可以定性定量分析固體樣品中包括C、N、O在內(nèi)的幾乎所有元素，是直接、快速分析高純樣品雜志含量和鍍層材料元素組成的優(yōu)質(zhì)工具。
 

　　ELEMENT GD集中了輝光放電和高分辨質(zhì)譜的優(yōu)勢，在以下方面有杰出表現(xiàn)：
 

　　· 樣品測試通量高：ELEMENT GD離子源和樣品夾的設(shè)計(jì)使可縮短換樣和分析時(shí)間，顯著提高生產(chǎn)率；
                                                                       

　　· 檢測器線性范圍寬：檢測器線性范圍達(dá)12個(gè)數(shù)量級，可一次掃描同時(shí)檢測基體和痕量元素組成；                                                     
                                                                                               

　　· 具有固定寬度的低、中、高分辨率狹縫，采用高分辨率可直接分析有質(zhì)譜干擾的同位素。

標(biāo)簽：賽默飛ELEMENT GD Plus輝光放電質(zhì)譜儀