日本理學Rigku XRD SmartLab系列，是當是一款多功能的X射線衍射儀，它采用了理學CBO交叉光學系統、自動識別所有光學組件、樣品臺、智能的測量分析軟件SmartLab Guidance，一臺儀器可以智能進行普通粉末樣品、液體樣品、納米材料、藥品、半導體、薄膜樣品測試。The SmartLab 高分辨衍射系統全自動模塊化XRD系統的代表。該系統配備了高分辨θ/θ閉環(huán)測角儀驅動系統，選配的in-plane 掃描臂、9kW轉靶發(fā)生器，全自動光學系統實現的測量。

主要特點：

1、智能X射線衍射儀SmartLab系列，可以廣泛應用于各種材料結構分析的各個領域。

2、可以分析的材料包括：金屬材料、無機材料、復合材料、有機材料、納米材料、超導材料。

3、可以分析的材料狀態(tài)包括：粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品。

日本理學Rigku XRD Ultima IV是一款多功能X射線衍射儀的設備，結合了理學公司CBO技術，平行光與聚焦光靈活轉換，Ultima IV X射線衍射儀可快速執(zhí)行多種不同測量，采用全自動校準的X射線衍射儀，CBO技術與自動校準相結合，使Ultima IV X射線衍射儀成為多功能應用的靈活系統，CBO技術縮短了切換測角儀時花費的時間，使日常用戶可以運行兩組試驗而無需重新設置系統，可以減少經常切換造成的磨損和光路損壞。

自動校準：

1、粉末衍射

2、薄膜衍射

3、小角散射

4、In-plane散射

5、快速、靈活、實用

日本理學Rigku XRD MiniFlex應用于石棉、游離氧化鈣等定量分析、工業(yè)原材料品質管理、大學、科研等，此款設備具有600W功率，是其他臺式機的兩倍，高分辨、高精度、高信噪比，豐富的附件可供選擇，滿足廣泛應用需要。

產品特點：

1、安全設計： 采用聯鎖裝置，在X射線開啟狀態(tài)下無法打開樣品室操作窗。在測試中如果指令樣品室解鎖，則快門關閉同時停止X射線。

2、高分辨率： 入射和發(fā)散狹縫可選，為您提供所需的分辨率。

3、高 精 度： 實時角度校正功能，大幅提高角度精度、強度等基本性能，得到高精度測試數據。

4、高信噪比： 可以選配單色器，用于扣除熒光X射線背底，提高信噪比進行高質量數據測試。

5、豐富附件： 一維高速探測器、6位樣品自動轉換器、旋轉樣品臺、氣密樣品臺等。

主要應用：

1、粉末樣品的物相定性與定量分析；

2、計算結晶化度、晶粒大??；

3、確定晶系、晶粒大小與畸變；

4、Rietveld定量分析；

5、薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度；

6、In-Plane裝置可以同時測量樣品垂直方向的結構及樣品深度方向的結構；

7、小角散射與納米材料粒徑分布；

8、微區(qū)樣品的分析。

1、X射線發(fā)生器功率為3KW、新型9KW轉靶；

2、測角儀為水平測角儀；

3、測角儀進為1/10000度，精度測角儀(雙光學編碼、直接軸上定位)；

4、測角儀配程序式可變狹縫；

5、自動識別所有光學組件、樣品臺；

6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高強度高分辨平行光路(帶Mirror)；

7、小角散射測試組件(SAXS / Ultra SAXS)；

8、多用途薄膜測試組件；

9、微區(qū)測試組件、CBO-F微區(qū)光學組件；

10、In-Plane測試組件；

11、入射端Ka1光學組件；

12、高速探測器D/teX-Ultra(能量分辨率20%以下)；

13、二維面探PILATUS 100K/R(用于同步輻射環(huán)的探測器，可以接收直射X射線)；

14、智能的測量分析軟件SmartLab Guidance。