目前能測(cè)量固體或薄膜材料的液固介面ZETA電位的儀器很少。而應(yīng)用電泳光散射的方法，測(cè)量液、固介面Zeta電位的儀器僅有貝克曼庫(kù)爾特公司上市的DelsaNano系列如電泳光散射固體及薄膜Zeta電位分布分析儀。

電泳光散射固體及薄膜Zeta電位分布分析儀簡(jiǎn)介：

DelsaNano C是目前惟一的應(yīng)用電泳光散射及動(dòng)態(tài)光散射原理，同時(shí)提供顆粒Zeta電位分布、固體及薄膜液-固表面Zeta電位分布和納米粒度分布的分析儀。DelsaNnao通過特別設(shè)計(jì)的固體平板樣品池，有效精確地為固體材料、纖維材料、薄膜材料等提供ZETA電位分析。為廣大的新材料研究、生產(chǎn)提供

先進(jìn)的、多用途的分析工具。

電泳光散射固體及薄膜Zeta電位分布分析儀技術(shù)參數(shù)：

測(cè)量范圍：

1.適合測(cè)量各種固體、薄膜、纖維等;

2.ZETA電 勢(shì)：- 200 mV ~ +200 mV

3.電遷移率：-10μm?cm/sec?V ~ 10 μm?cm/sec?V

4.可配合自動(dòng)滴定儀進(jìn)行動(dòng)態(tài)pH滴定測(cè)量

光 源：

雙固體激光，30 mW

探測(cè)器：

高性能光電倍增管

樣品池：

固體平板樣品池

主要特點(diǎn)：

1.測(cè)量固液界面ZETA電位，惟一的應(yīng)用電泳光散射的技術(shù);

2.操作簡(jiǎn)單，方便快捷;

3.靜態(tài)測(cè)量與動(dòng)態(tài)測(cè)量;

4.待測(cè)樣品無(wú)須特別處理;                                               

5通過探測(cè)粒子準(zhǔn)確推算表面ZETA電位;

6.分辨率高;

7.同時(shí)獲得粒子ZETA電位與固體表面ZETA電位;